| Titre : | Analyse structurale et chimique des matériaux |
| Auteurs : | Jean-Pierre Eberhart |
| Support: | Livre |
| Mention d'édition : | [Nouvelle éd.] |
| Editeur : | Paris : Dunod, 1997. |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-003367-6 |
| Format : | 614 p / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 540 – Chimie |
| Mots-clés: | chimie |
| Résumé : | L'industrie a des besoins croissants en matériaux performants à caractéristiques bien définies. Ces besoins ont suscité le développement de méthodes d'étude et de contrôle de plus en plus sophistiquées, basées sur l'interaction de divers rayonnements avec la matière. Une bonne connaissance de ces méthodes est indispensable aux chercheurs qui étudient les matériaux, aux ingénieurs et techniciens chargés de leur mise au point, de leur fabrication et de leur contrôle. Cet ouvrage traite de façon cohérente et accessible à des non-spécialistes les bases théoriques et la pratique des techniques les plus importantes utilisant les rayons X, les électrons, les neutrons, les ions. Illustré de nombreux schémas et photographies, complété par une abondante bibliographe, ce livre intéresse tout lecteur concerné par les matériaux . |
| Sommaire : |
INTERACTION RAYONNEMENTS-MATIERE
ASPECTS THEORIQUES Notions générales sur les rayonnements et la matière Notions générales sur l'interaction des rayonnements avec la matière Diffusion cohérente des rayonnements par la matière Diffusion des rayonnements par un atome Amplitude de diffusion atomique Diffraction des rayonnements par un cristal Théorie élémentaire de la diffraction des électrons Emission de rayonnements secondaires Absorption des rayonnements dans un matériau TECHNIQUES DE PRODUCTION ET DE MESURE DES RAYONNEMENTS Techniques de production des rayons X, électrons, neutrons thermiques et ions Détections et mesure des rayonnements Détecteurs et spectromètres APPLICATIONS DE LA DIFFRACTION DES RAYONNEMENTS A L ETUDE DES MATERIAUX Diffraction des rayons X et des neutrons appliquée à l'étude des matériaux cristallisés Diffraction des électrons appliquée à l'étude de couches minces cristallines APPLICATIONS DE LA SPECTROMETRIE DES RAYONS X DES ELECTRONS ET DES IONS SECONDAIRES |
Exemplaires (12)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité | Emplacement |
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| T8/1629 | Livre | Bibliothèque centrale El Allia | Disponible | Magazin |
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