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Auteur Rami Boumaraf |
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Thése doctorat
Rami Boumaraf ; Nouredine Sengouga, Directeur de thèse | Biskra [Algerie] : Université Mohamed Khider | 2015La caractéristique capacité-tension (C-V) est une des techniques les plus importantes utilisées pour évaluer la qualité des semiconducteurs. C'est une méthode non-destructive de caractérisation, elle donne une perspicacité dans les composants (i[...]