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Titre :
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Mise en oeuvre d'un banc d'essai pour la caractérisation des pièges profonds dans un composant a semi-conducteur par la méthode de photo-voltage en circuit ouvert
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Auteurs :
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Nacer Eddine Rahmani, Auteur ;
Abderezzak Debilou, Directeur de thèse
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Support:
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Mémoire magistere
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Editeur :
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Biskra [Algerie] : Université Mohamed Khider, 2005
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Langues:
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Français
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Mots-clés:
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Circuits ouvert
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Photo-voltage
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Methode de Semiconducteurs
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Résumé :
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Les bancs de testes de caractérisation, sont des outils primordial dans les laboratoires de recherches scientifiques, surtout dans le domaine expérimentale. Nous avons mis en oeuvre un banc de caractérisation des piéges profonds dans un composant à semi-conducteur en utilisant la méthode du photo-voltage en circuit ouvert ; Cette méthode ce base sur la comparaison entre la caractéristique I-V et l'allure du photo-voltage mesuré entre les bornes du composant de teste en circuit ouvert après une excitation lumineuse, pour plusieurs température. Ainsi l'expérimentation ce décompose en deux parties ; La mesure de la caractéristique I-V du composant, et la mesure du photo-voltage en circuit ouvert, pour plusieurs température.
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