| Titre : | Cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique |
| Auteurs : | Claude Esnouf, Auteur |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Editeur : | Paris : Ellipses, DL 2018 |
| Collection : | Technosup (Paris), ISSN 1275-3955 |
| Sous-collection : | Les filières technologiques des enseignements supérieurs |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-340-02338-3 |
| Format : | 1 vol. (xiv-220 p.) / ill., couv. ill. / 26 cm |
| Note générale : | La couv. portent en plus : Physique, cours et exercices corrigés |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 548 (Cristallographie) |
| Résumé : |
Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Écoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles. L'ouvrage comporte cinq chapitres : • Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. • Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. • Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique. • Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). • Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage. |
| Sommaire : |
AVANT-PROPOS iii TABLE des MATIERES vi LISTE des SYMBOLES ix LISTE desACRONYMES xiii CHAPITRE I : CRISTALLOGRAPHIE 1-L’ETAT CRISTALLIN 1-1 Maille élémentaire, motif, réseau 1 1-2 Groupes d’espace 10 1-3 Groupes ponctuels 14 1-4 Les groupes bidimensionnels 17 1-5 Lecture des Tables Internationales de Cristallographie 19 2- INDEXATION et REPRESENTATION des PLANS RETICULAIRES 22 2-1 Indices de MILLER 22 2-2 Espace et réseau réciproques 24 2-3 Axe de zone - Normale à un plan 26 2-4 Projection stéréographique 27 2-5 Formules usuelles de Cristallographie 31 CHAPITRE II : DIFFRACTION par les CRISTAUX 1- PHENOMENE de DIFFUSION 36 1-1 L’onde électronique 36 1-2 Diffusion électronique 37 2- PHENOMENE de DIFFRACTION 41 2-1 Intensité diffractée 42 3- DIFFUSION INELASTIQUE - LIGNES DE KIKUCHI 54 3-1 Lignes de KIKUCHI en transmission 54 3-2 Lignes de KIKUCHI en réflexion 58 CHAPITRE III : ASPECTS INSTRUMENTAUX 1- MICROSCOPES ELECTRONIQUES 59 1-1 Architecture des microscopes 59 1-2 Source d’électrons 62 1-3 Résolution spatiale en mode focalisé 63 1-4 Porte-objets des microscopes 65 1-5 Acquisition des clichés 67 1-6 Correcteurs d’aberrations 69 2- PREPARATION des ECHANTILLONS 69 2-1 Préparation pour la MEB 69 2-2 Préparation pour la MET 70 CHAPITRE IV : METHODES de DIFFRACTION au MET 1- METHODE SAED 77 1-1 Relation de dépouillement 77 1-2 Aspect du cliché de diffraction 78 1-3 Zones de LAUE 80 1-4 Pratique du dépouillement d’un cliché de monocristal 81 1-5 Méthode concurrente : Imagerie de haute résolution 84 1-6 Déterminations permises par la méthode SAED 86 2- METHODE du FAISCEAU CONVERGENT 92 2-1 Que contiennent les disques de diffraction ? 92 2-2 Approfondissements : Déterminations permises par les méthodes à faisceau convergent 99 3- METHODE de DIFFRACTION en PRECESSION 103 3-1 Caractéristiques de la méthode PED 105 CHAPITRE V : METHODES de DIFFRACTION au MEB 1- METHODE EBSD 112 1-1 Emission rétrodiffusée – Compléments 112 1-2 Dispositifs d’acquisition et de traitement 116 2- METHODE TKD/t-EBSD/t-EFSD 124 2-1 Montage expérimental 124 2-2 Résolution spatiale 124 2-3 Acquisition et traitement 125 2-4 Une variante, le TKD ‘on-axis’ 126 3- COMPARAISON des METHODES PED, EBSD, TKD 127 3-1 Au plan pratique 127 3-2 Au plan de la résolution 127 3-3 Au plan de la qualité des clichés 127 3-4 Au plan de la sensibilité à l’orientation cristalline 130 3-5 Au plan de la discrimination des phases 130 3-6 Au plan de la distribution des grains 131 ANNEXES A1 Symbolisme de représentation des éléments de symétrie 133 A2 Facteur de multiplicité A3 Facteur de LORENTZ 136 A4 Notion de distance d’extinction 138 A5 Compléments à l’utilisation d’un porte-objet ‘tilt-rotation’ 140 A6 La projection gnomonique 142 A7 Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques 147 EXERCICES et leurs SOLUTIONS E1 Symétries 2D 148/186 E2 Compacité et sites dans les structures simples 149/187 E3 Groupe d’espace de l’hexagonal compact 151/189 E4 Construction de l’espace réciproque 153/192 E5 Indexations par changement de réseau 154/195 E6 Règle d’extinction des cristaux R 156/198 E7 Macle Σ3 dans une structure cfc 158/199 E8 Facteur de structure et réseaux de BRAVAIS 161/201 E9 Facteur de structure dans l’hexagonal compact 161/202 E10 Cliché de type DEBYE-SHERRER 162/204 E11 Dépouillement d’un cliché de diffraction par un monocristal de zircone E12 Diffraction à l’interface d’un cristal R et d’un cristal F 167/208 E13 Cristal Al3BC - Extinction d’ondes 170/210 E14 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte-objet ‘tiltrotation’) 171/171 E15 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte-objet ‘double-tilt’) 176/176 E16 Anamorphisme des clichés EBSD 179/211 E17 Dépouillement d’un cliché EBSD 181/213 E18 Dépouillement d’un cliché CBED Index |
Disponibilité (4)
| Cote | Support | Localisation | Statut |
|---|---|---|---|
| CH/619 | Livre | bibliothèque sciences exactes | Consultable |
| CH/619 | Livre | bibliothèque sciences exactes | Empruntable |
| CH/619 | Livre | bibliothèque sciences exactes | Empruntable |
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