| Titre : | L'affinement structural des fluorures SrF2 et BaF2 par la méthode de Rietveld (full prof) |
| Auteurs : | Bahia Messai, Auteur ; Zelikha Necira, Directeur de thèse |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Editeur : | Biskra [Algérie] : Faculté des Sciences Exactes et des Sciences de la Nature et de la Vie, Université Mohamed Khider, 2019 |
| Format : | 1 vol. (59 p.): couv. ill. en coul / 29 cm |
| Langues: | Français |
| Mots-clés: | PDRX,CIF,Indexation,Affinement de Rietveld,Full prof,BaF2,SrF2. |
| Résumé : |
L’objectif principal du travail de ce mémoire repose sur l’affinement structural des fluorures SrF2 BaF2 par la méthode de Rietveld (full prof). Ces deux composés ont été synthétisés par attaque chimique des carbonates SrCO3 et BaCO3 par l’acide fluorhydrique HF dans des béchers en téflon. La description complète du diagramme de diffraction RX a été faite par la technique de Rietveld, y compris le bruit de fond, la forme, la position et les intensités des raies de diffraction observées à l’aide de modèle structural en utilisant le fichier CIF. On a procédé par affinement progressif des paramètres du modèle par technique de moindres carrés jusqu’à obtenir un accord aussi bon que possible entre le diagramme observé et calculé avec le modèle structural. |
| Sommaire : |
SOMMAIRE INTRODUCTION GENERALE ....................................................................... 1 CHAPITRE I : ETUDE BIBLIOGRAPHIQE SUR FLUORURES BaF2 ET SrF2 I.1. Introduction ....................................................................... 4 I.2. Fluorure de strontium SrF2 ................................................................ 4 I.2.1. Description de la structure cristalline ........................................... 5 I.3. Fluorure de baryum BaF2 ................................................ 6 I.3.1. Description de la structure cristalline ..................................... 7 I.4. Groupe d'espace Fm-3m .......................................................... 10 Références bibliographiques ........................................................ 11 CHAPITRE II : PRESENTATION DU LOGICIEL FULLPROF II.1. Introduction .................................... 12 II.2. Pourquoi la diffraction sur poudre ? .......................................... 12 II.3. Composition d'un diagramme de poudre .................................................. 12 ?La paramètres de maille .......................................................................... 15 ?Le groupe d'espace .................................................................................. 16 ?Le zéro ........................................................................... 17 II.4. Interaction des rayons X avec la matière ............................ 18 II.4.1. Facteur de diffusion atomique .................................................................................. 19 II.4.2. Facteur de structure ....................................................... 19 II.4.3. Facteur d’agitation thermique des atomes ..................................... 20 ii II.5. Méthode de Rietveld .................................................... 21 II.5.1. Profile des raies de diffraction ................................................................................... 21 II.5.1.1. Contribution instrumentale ................................................... 21 II.5.1.2. Contribution de l’échantillon ................................................. 22 II.5.1.3. Séparation des deux types d’élargissements .............................. 22 II.5.1.4. Correction des élargissements expérimentaux ............................. 22 II.5.2. Les facteurs d'accords utilisés dans les méthodes d'affinement ...................... 23 II.5.2.1. Les facteurs d’accord de profil ..................................................... 23 II.5.2.2. Les facteurs d’accord de structure ................................................ 24 II.6. Méthode d’ajustement de profils ..................................................................................... 24 II.6.1. Ajustement du profil total par contrainte de la maille (‘’Pattern matching’’) .......... 24 II.6.2. Affinement de structure par ajustement de profil total ............................ 24 II.7. Ajustement individuel des profils expérimentaux ......................... 25 II.8. Détermination structurale ................................................. 25 II.9. Analyse qualitative et identification de phases ................................. 26 II.9.1. Détermination de paramètres de maille ........................................... 27 II.9.2. Indexation ..................................................................................... 27 II.9.3. Affinement des paramètres de maille ................................................ 27 II.10. Analyse quantitative ............................................................................. 28 II.11. La modélisation des paramètres ......................................................... 28 II.11.1. La modélisation du fond continu ................................................ 28 II.11.2. Le facteur de la structure .............................................................. 28 II.11.3. L'asymétrie des pics de diffraction ....................................... 29 II.11.4. La correction du déplacement systématique des pics ...................... 29 II.11.5. La correction de Lorentz polarisation .......................................... 31 II.11.6. Modélisation de la microstructure ................................... 31 II.12. Aspect pratique .................................................................. 31 SOMMAIRE iii II.12.1. Le logiciel FULLPROF ............................................................... 31 II.12.2. Présentation du fichier fichier.dat ........................................................................... 32 II. 12.3. Fichiers crées par FULLPROF ............................................. 32 Références bibliographiques ...................................................................... 34 CHAPITRE III : RESULTATS ET DISCUSION III.1. Introduction ................................................................................ 36 III.2. Préparation de l’échantillon ..................................................... 36 III.3. Résultats et discussions .............................................. III.3.2. Affinement de la structure par la méthode de Rietveld ........................................... 40 III.3.3. Description de la structure ............................................... 54 III.4. Conclusion ............................................................. 57 Références bibliographiques .......................................................... 58 CONCLUSION GENERALE ................................................ 59 ANNEXE |
Disponibilité (1)
| Cote | Support | Localisation | Statut |
|---|---|---|---|
| MCH/398 | Mémoire master | bibliothèque sciences exactes | Consultable |
