| Titre : | Les isolants : physique de la localisation des porteurs de charge ; applications aux phénomènes d'endommagement |
| Auteurs : | Christiane Bonnelle, Auteur ; Guy Blaise, Auteur ; Claude Le Gressus, Auteur ; Daniel Tréheux, Auteur |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Editeur : | Paris [France] : Éditions Tec & doc, DL 2010 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7430-1229-8 |
| Format : | 1 vol. (XIX-340 p.) / ill., couv. ill. / 24 cm |
| Note générale : | Notes bibliogr. Index |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 621.319 37 |
| Catégories : |
[Agneaux] Conduction électrique [Agneaux] Isolants électriques |
| Résumé : |
Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l'utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l'endommagement des isolants. Les isolants propose ainsi un nouveau modèle d'endommagement des isolants permettant d'en prévoir le comportement et décrit une méthode de mesures des grandeurs préconisées par ce modèle. L'ouvrage présente : les phénomènes de claquage, de fracture et d'usure expliqués à travers ce modèle ; des applications à des problèmes technologiques variés et plusieurs stratégies d'amélioration des matériaux ; les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L'exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux. Les résultats obtenus sur échantillons de laboratoire permettent ainsi de poser les bases d'une ingénierie des défauts destinée à adapter tout isolant industriel (polymère, céramique, porcelaine, composite...) aux contraintes qui lui sont imposées (température, pression, champ électrique et rayonnements ionisants). Cet ouvrage constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique à des ingénieurs et à des chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation des étudiants et à la sensibilisation des chercheurs à de nouvelles approches fondamentales des isolants. |
| Sommaire : |
Introduction. 1.Perturbation du champ cristallin et endommagement. Introduction. Principes généraux. Piégeage et dépiégeage d’électrons. Conclusion. Références bibliographiques. 2.Caractérisation des isolants, microscopie à balayage. Introduction. Synthèse des données nécessaires à la caractérisation des isolants. Caractérisation des effets d’accumulation de charges. Conclusion. Annexes. 3.Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique. Introduction. Rappel des protocoles expérimentaux. Effet des défauts chargés sur les propriétés mécaniques. Effet des charges piégées sur le claquage électrique. Applications. Conclusion. Annexes. Conclusion et perspectives. Références bibliographiques. Index. |
Disponibilité (2)
| Cote | Support | Localisation | Statut |
|---|---|---|---|
| PHY/317 | Livre | bibliothèque sciences exactes | Consultable |
| PHY/317 | Livre | bibliothèque sciences exactes | Empruntable |
